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セミコンヨーロッパ2024

このイベントは、ハイレベルな議論、最新の開発に関する洞察、そして集中的な専門家の交流のプラットフォームを提供しました。さまざまな企業や研究機関の代表者が、化学機械研磨 (CMP) と半導体ウェーハの湿式化学処理 (WET) に関する知識と経験を共有しました。。

2025-03-12T06:15:54+01:0011月 18, 2024|

一般情報

このイベントは、ハイレベルな議論、最新の開発に関する洞察、そして集中的な専門家の交流のプラットフォームを提供しました。さまざまな企業や研究機関の代表者が、化学機械研磨 (CMP) と半導体ウェーハの湿式化学処理 (WET) に関する知識と経験を共有しました。

2025-03-12T06:14:35+01:0011月 4, 2024|

ネクスジェン・ウェーハ・システムズ、6″、8″、12 “基板用の計測技術を統合した多用途で高スループットのウェットエッチングおよびクリーンソリューション、serenoを発表

このイベントは、ハイレベルな議論、最新開発に関する洞察、集中的な専門家交流の場を提供した。さまざまな企業や研究機関の代表者が、化学的・機械的研磨(CMP)や半導体ウェーハの湿式化学処理(WET)に関する知識や経験を共有した。

2025-02-28T13:50:51+01:0011月 4, 2024|

ネクスジェン、欧州CMP & WETユーザーグループ・ミーティングの共同ホストを務める

このイベントは、ハイレベルな議論、最新開発に関する洞察、集中的な専門家交流の場を提供した。さまざまな企業や研究機関の代表者が、化学的・機械的研磨(CMP)や半導体ウェーハの湿式化学処理(WET)に関する知識や経験を共有した。

2025-02-28T13:50:51+01:005月 1, 2024|

裏面入射型積層型CMOSイメージセンサー製造におけるウェハー薄化のためのシリコンのドーピング選択的エッチング

裏面照射型(BSI)CMOSセンサーの準備のための、シリコンドーピング選択的エッチングを用いた裏面薄膜化。HNAケミストリー(HF: HNO3: CH3COOH)を用いて、p+/p-選択性の高いp+/p-シリコン遷移層を形成し、サブミクロンの膜厚変化を実現。

2025-02-28T13:50:50+01:007月 9, 2023|

SECS/GEMの紹介

こんにちは、私はイウィン・リーです。現在ネクスジェン・ウェーハ・システムズでソフトウェア・リードとして働いているソフトウェア・エンジニアです。ソフトウェア開発、そして半導体業界における効率的なソフトウェア・ソリューションと設計の提供に情熱を注いでいます。

2025-02-28T13:51:35+01:0010月 18, 2022|
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