我们的解决方案和服务

创新工艺解决方案

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半导体产品工程

01 工艺设备

湿法蚀刻和清洗设备

 

我们的所有湿法化学设备都具有薄和超薄晶片处理能力,并集成了厚度和粗糙度测量的计量功能。

SERENO

高产量的多功能设备

  • 每小时多达 200 个晶片

  • 3 加工化学品

  • 综合计量学
  • 双晶圆尺寸处理
  • 超薄晶圆加工能力

MG22

高度灵活的设备,适用于中等产能

  • 每小时最多 60 个晶片
  • 4 加工化学品
  • 综合计量学
  • 双晶圆尺寸处理
  • 超薄晶圆加工能力

MG21

高度灵活的设备,适用于较低产能需求

  • 每小时最多 30 个晶片
  • 4 加工化学品
  • 综合计量学
  • 超薄晶圆加工能力

02 应用

工艺解决方案。

新工艺的建立和鉴定是一个漫长和高资本投入的过程 我们帮助客户以经济高效的方式卸下部分开发工作

我们提供新颖的湿法蚀刻和清洁工艺解决方案,专注于单晶片技术,为客户提供最佳性能和产量。

我们提供新颖的湿法蚀刻和清洁解决方案

表面清洁

  • 清除微粒
  • 去除聚合物
  • 清除残留物
  • 晶圆清洁

薄膜和金属蚀刻

  • 背面薄膜蚀刻(氮化硅 | 二氧化硅 | 多晶硅)
  • 金属蚀刻(Ti | Ni | Ag | Au | Al | W | Cu …)
  • UBM (Ag | Ni| Ti …)

基材蚀刻

  • 减薄
  • 缓解压力
  • 表面调节
  • Vias 揭示

支持的称底类型

Si /// SiC /// GaN /// GaAs /// Al2O3 /// ZnO

4″ , 6″, 8″, 12″

03 综合计量学

厚度和粗糙度测量。

先进的过程控制包含实时数据采集和关键过程参数管理,这些参数对于确保产品的可靠性和性能至关重要。

对于蚀刻和清洁工艺,实时监控影响蚀刻均匀性、可重复性、清洁效率和总厚度变化的参数至关重要。我们的设备具有这些功能,可最大限度地提高晶圆内和晶圆间的工艺性能。我们的在线计量解决方案可在工艺设备中为集成表面粗糙度和称底厚度提供领先的工艺控制。

  • 一体化厚度测量和控制

  • 综合粗糙度测量和控制

  • 端点检测(EPD)

  • 机载化学品浓度监测和控制

  • 先进过程控制 (APC) 和测量统计

  • 通过采用取决于性能的化学交换,而不是取决于时间的交换,实现成本节约

将晶圆加工与计量相结合,可即时反馈生产线的稳定性和质量。智能加工可降低总体运营成本,防止出现超出规格的情况。

04 联系方式

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